Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry
A User's Guide

Harland G. Tompkins (Author), William A. McGahan (Author)

9780471181729, Wiley

Hardback, published 6 April 1999

248 pages
24 x 16 x 2 cm, 0.533 kg

Mit Hilfe der Ellipsometrie mißt man Dicken und optische Eigenschaften dünner Filme. In den vergangenen Jahren hat die ellipsometrische Spektroskopie ebenso wie die eng verwandte Reflektometrie zunehmend die Industrielabors erobert. Dies schafft Bedarf an einer praxisnahen Einführung für ein interdisziplinäres Publikum von Materialwissenschaftlern, Physikern, Chemikern und Elektrotechnikern, wie sie mit diesem Buch gelungen ist. (04/99)

Perspective and History.

Fundamentals.

Optical Properties of Materials and Layered Structures.

Instrumentation.

The Anatomy of a Reflectance Spectrum.

Aspects of Single-Wavelength Ellipsometry.

The Anatomy of an Ellipsometric Spectrum.

Analytical Methods and Approach.

Optical Data Analysis.

Quality Assurance.

Very Thin Films.

Roughness.

Appendices.

Index.

Subject Areas: Mechanical engineering & materials [TG]