Failure Mechanisms in Semiconductor Devices

E. Ajith Amerasekera (Author), Farid N. Najm (Author)

9780471954828, Wiley

Hardback, published 20 June 1997

360 pages
23.3 x 15.6 x 2.5 cm, 0.68 kg

In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausfällen von Halbleiterbauelementen führen. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausführlich beschrieben werden, wird die Zuverlässigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.

Aus dem Inhalt:
Introduction. Reliability Mathematics. Principles Failure Mechanisms. Failure Mechanisms in Technologies and Circuits. Reliability Testing. Reliability Prediction. Screening. Failure Analysis. Quality Assurance.

Subject Areas: Electronics & communications engineering [TJ]